اعانه 15 سپتمبر 2024 – 1 اکتبر2024
د پیسو د راټولولو په اړه
د کتابونو لټون
کتابونه
اعانه:
69.4% مقصد ته رسیدل
داخلیدل
داخلیدل
د اګ ان شوو کاروونکو د پاره لاندی شیان په لاسرسۍ کښې دي:
شخصي نصیحتونه
د Telegram بوت
د ډاونلوډونو تاریخ
ایمیل یا Kindle ته لېږل
د منتخباتو مدیریت
په منتخباتو کښې خوندي کول
شخصي
د کتابونو درخواستونه
مطالعه
Z-Recommend
کتابونو انتخاب
مشهورترین
درجه (قاطیغوری(
برخه اخیستل
کومک
ډاونلوډونه
Litera Library
د کاغذ کتابونه ډالۍ کړئ
کاغذی کتابونه اضافه کول
Search paper books
زما LITERA Point
د مهمو اصطلاحاتو پلټنه
Main
د مهمو اصطلاحاتو پلټنه
search
1
Nouvelles approches d’utilisation de la spectroscopie de photoélectrons à rayons X (XPS) pour le développement et le contrôle des technologies FDSOI avancées
Laurent Fauquier
couche
germanium
figure
silicium
sio2
parxps
profil
couches
d’épaisseur
technique
composition
profondeur
pourcentage
mesures
hfon
industriel
l’épaisseur
pic
l’échantillon
hfo2
substrat
angles
spectre
atomique
l’xps
présente
d’azote
meis
profils
paramètre
pics
déterminer
échantillons
l’énergie
surface
spectres
l’empilement
grille
présentant
liaison
métrologie
simulation
énergie
obtenus
chimique
relatif
ions
gradient
angle
faible
ژبه:
french
فایل:
PDF, 7.01 MB
ستاسی تیګی:
0
/
0
french
1
د
دې لینک
تعقیب کړئ یا په ټیلیګرام کښې دا "@BotFather" بوټ ومومئ
2
کمانډ واستوئ /newbot
3
د خپل بوټ نوم ولیکئ
4
د بوټ د استفادې کوونکي نوم ولیکئ
5
د BotFather وروستی پیغام کاپي کړئ او دلته یې پیسټ کړئ
×
×